SII NanoTechnology
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Espectrômetros - Fluorescência de Raios-X especiais para análise da diretivas EU WEEE & RoHS e ELV , Detectores Vortex e Padrões
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SII NanoTechnology é especializada no desenvolvimento de intrumentos para pesquisa e medidas, utilizando Sistemas de Espectrômetro e Detectores de Raios-X. Apresentada pelas séries:
A Série SEA de Espectrômetro de Fluorescência de Raio-X são especiais para análise qualitativa e quantitativa de elemento, sendo especiais para análises das Normas Européias WEEE & RoHS e ELV, que restringem o uso de substâncias perigosas em produtos eletrônicos, automotivos, brinquedos e plásticos.
A Série SFT permite análise com maior precisão nas medidas de espessuras de revestimentos ou filmes finos, a partir de ensaios não-destrutivos, rápidos e faceis de serem realizados.
Detectores Vortex permitem maior precisão nas detecções de Fluorescência de Raios-X (XRF),Micro Fluorescência de Raios-X, Radiação Sincrotons, Difração de Raios-X (XRD) e Controle de Processos.
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